Analyse microscopique de défauts

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Analyse des défauts
dans l'industrie du papier

Le papier se compose d'une multitude de différentes composants. Outre les fibres, la colle, les agents d'imprégnation et les matériaux auxiliaires, le papier contient, selon le type, jusqu'à 30% de charges. Des charges typiques sont par exemple le carbonate de calcium, le talc, le kaolin, le gypse et le dioxyde de titane. Ainsi, la propriété des matériaux telle que l'imprimabilité, l'éblouissement ou l'opacité peuvent être optimisées au besoin. Dans le produit fini, les composants sont visuellement indiscernables. De plus, les défauts n'ont souvent qu'un faible contraste visuel et sont donc difficiles à analyser.

La spectroscopie IRTF est une méthode de mesure permettant de déterminer très rapidement l'identité chimique de divers matériaux organiques et inorganiques. Étant donné que de nombreux types de papier ont une composition très hétérogène et que les défauts sont souvent très faibles, l'analyse avec des méthodes de mesure macroscopiques n'est habituellement pas possible.

A l'aide d'un microscope IRTF, il est possible de mesurer un spectre IR sur l'échantillon avec une résolution latérale élevée et ainsi déterminer la composition chimique du défaut. Une cartographie permet l'analyse qualitative des composantes et la détermination de la distribution sur la zone d'échantillonnage mesurée.

  • Identification de contaminant

  • Identification et distribution des charges

Analyse IRTF de contamination dans le papier

L'exemple ci-dessous montre l'analyse d'une contamination sur la surface d'un morceau de papier. En raison du faible contraste visuel, la zone contaminée est à peine visible à l'œil nu. L'analyse du papier a été faite avec une cartographie automatisée. L'image chimique obtenue montre la distribution semi-quantitative de la contamination. L'information spectrale acquise permet d'identifier la contamination en tant que silicate, ce qui rend beaucoup plus facile de trouver la cause de l'impureté.

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Pour plus d'information, lisez la note d'application M 137 sur l'identification de défaut et d'inhonogénéité sur le papier

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