Дефекты продукции приводят к драматичным последствиям как для потребителя, так и для производителя. В худшем случае результатом становятся физические увечья, компенсация ущерба, потеря продукции и репутации. Для максимального предотвращения такого сценария необходим эффективный анализ дефектов.
Существует много типов дефектов, приводящих к провалу продукта. Нерастворимые частицы в жидких лекарствах несут возможный риск здоровью пациентов. Дефекты в полимерах и пластиках часто образуются из-за ошибок состава или негомогенного распределения компонентов. Загрязнения в виде частиц и включений не желательны во многих продуктах, но особенно серьезной проблемой они становятся для электронных девайсов.
В связи с тем, что такие дефекты исключительно малы или требуют пространственно-разрешенного анализа, очень сложно или даже невозможно определить их макроскопическими методами. По этой причине для анализа дефектов обычно используются микроскопические методы. Для определения физических свойств дефектов применяется оптическая и сканирующая электронная микроскопия (SEM). Дополнительно данные элементного состава позволяет определить энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия.
Однако решающим фактором для эффективного анализа дефектов является быстрое и точное определение химического состава дефектного продукта. Наиболее мощными методами как в случае органических, так и не органических материалов выступают ИК-Фурье и Раман спектроскопия.
ИК-Фурье микроскоп LUMOS и Рамановский микроскоп SENTERRA II - это высокоэффективные инструменты для анализа дефектов, т.к. они позволяют получить информацию о химическом составе в любой точке образца с высокой разрешающей способностью.
Примеры анализа дефектов
В FTIR спектроскопии используется невидимое инфракрасное излучение и анализируется интенсивность его поглощения при разных длинах волн. ИК-спектр любого образца коррелирует с его молекулярным составом - практически как химический отпечаток пальца (см. рисунок ниже). И органические, и неорганические составляющие влияют на спектр образца. Поэтому ИК метод хорошо работает как для чистых веществ, так и для материалов сложного состава. Кроме того возможно количественное определение отдельных компонентов внутри анализируемого материала. Для большинства образцов ИК-Фурье анализ проводится без предварительной пробоподготовки и без использования каких-либо расходных материалов.
| Узнайте больше об ИК-спектроскопии в нашем интерактивном курсе (> 80 страниц). |  |
LUMOS – автономный полностью автоматизированный FTIR микроскоп, все движущиеся детали которого моторизированы и компьютеризированы. Благодаря исключительной производительности при использовании метода НПВО LUMOS способен анализировать большинство образцов без пробоподготовки. Он легко управляется благодаря полной автоматизации и интуитивно понятному руководству. Программное обеспечение ведет оператора шаг за шагом в процессе измерения и сбора данных. На каждом этапе пользователю предлагаются только подходящие на данный конкретный момент функции. Несмотря на то, что LUMOS разработан для проведения ежедневного анализа не экспертами, высокая чувствительность микроскопа позволяет использовать его для решения сложных исследовательских задач.
увеличить
| Узнать больше о возможностях LUMOS в брошюре. |  |
| Посмотреть, как большое рабочее расстояние LUMOS упрощает исследование различных образцов. AN M114. |  |
В Раман спектроскопии оценивается неупруго рассеянное излучение лазерного пучка. На первый взгляд рамановский спектр схож с ИК-спектром, но он часто содержит дополняющую информацию и показывает более четкие линии. Наиболее эффективна Раман спектроскопия для неорганических соединений, где ИК-спектроскопия ограничена в возможностях.
Кроме того, Раман спектроскопия позволяет проводить измерени образца, помещенного в прозрачную контейнер, как, например, стеклянные пробирки, или через слой воды неинвазивным способом. Также возможен анализ прозрачных образцов профилированием по глубине, так полимерные пленки могут быть охарактеризованы с очень высоким глубинным разрешением на уровне микрона.
| Узнать больше о Раман микроскопии | |
